Купили 20 человек
Аннотация
Серия | Профессиональное образование |
---|---|
Издательство | |
Страниц | 272 |
Год, тираж | 2019 |
Последний экземпляр
Описание и характеристикиХарактеристики
В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. .Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. .Для студентов среднего профессионального образования.
Код | 2763601 |
---|---|
Издательство | |
Серия | Профессиональное образование |
Автор |
|
Кол-во страниц | 272 |
Год издания | 2019 |
ISBN | 978-5-534-11822-3 |
Раздел | Физические науки |
Размеры | 16.2 см × 24.5 см |
Вес | 0.46 кг |